SNE-4500GMicroscopio elettronico a scansione da tavolo SEM
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A. Parametri tecnici
1. Risoluzione: 5nm (30kV, immagine SE)
2. rapporto di ingrandimento: 30x ~ 100000x (rapporto di ingrandimento efficace 60000x)
3. Tensione di accelerazione:
5kV a 30kV (passo 5Kv/10Kv/15kV/20kV/30Kv-5)
4. Immagine:
Immagine elettronica secondaria (SEI) - Immagine elettronica secondaria
5. Modalità di osservazione: Standard Mode
6. Sistema di pistola elettronico:
Tipo di filamento: filamento di tungsteno pre allineato
Sistema bias: modalità bias automatica
Calibrazione elettronica della pistola: modalità manuale
7. Composizione delle lenti
i. Lente di messa a fuoco: lente a bobina magnetica a 2 stadi
Ii. Obiettivo obiettivo: lente a bobina magnetica a 1 segmento
8. Tipo di rivelatore
E-T Detector
9. Sistema di fase: controllo a 5 assi
- X, Asse Y: 40mm / Asse R: 360°
- Z: 0~35mm / asse di inclinazione: 0~45°
10. Spostamento immagine: X, Y Image Shift (100?)
11. Dimensione del campione:
80mm di diametro, 35 mm di altezza
SNE-4500GMicroscopio elettronico a scansione da tavolo SEM
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